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异物，指的是混入原料或产品里的除对象物品以外的物质。
在生产使用过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化，或者由于生产缺陷、疏忽等原因引入和形成异物，增加了产品不良率，对产品的使用性能带来极大影响。异物的生成原因比较多，例如原材料不纯、反应有副产物、工艺控制不规范或工艺配方不成熟等。
本项目通过分析异物，获得其所含的元素、化学成分，结合厂家对产品和工艺的了解找出异物产生的真正原因，通过厂家对配方工艺等的改进调节进而避免异物的产生。
该技术是专门针对产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物的分析技术。例如对表面嵌入或析出的颗粒物、小分子迁移物、斑点、油状物、雾状物、橡胶喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者，是改善产品常用的分析方法之一。
表面异物分析意义
①快速判断异物或杂质的成分，分析产生原因，进行整改提升产品良率；
②通过对异常物质分析，进行配方完善；
③消除生产隐患；
④保障生产的稳定性。
应用范围
广泛应用于化工产品、航空产品及其零部件、汽车产品及其零部件、LCM系列产品、PCB&PCBA、电子元件及半导体产品等。
主要分析方法
| 方法 | 应用范围 |
| 红外光谱法 FTIR |
1.显微FTIR， 仅需10um以上样品即可测试 2.物成分分析 （400-4000cm-1 |
| 扫描电子显微镜和能量色散X射线谱法 SEM/EDS |
1.固体 2.元素分析/元素分布 （B-~U） /形貌观察 |
| 俄歇电子能谱分析仪法 AES |
极表面 （0-3nm） 分析设备 |
| X射线电子光能谱分析法 XPS |
1.更精密的元素分析 2.元素价态， 存在形式分析 |
| 飞行时间次离子质谱分析法 TOF-SIMS |
ppm级别表面成分分析 |
| 动态次离子质谱分析法 D-SIMS |
ppb级表面及芯部成分分析 |
| 气相色谱质谱联用仪分析法 GC-MS |
1.固体/液体 2.易挥发组分测试 |